涂層測(cè)厚儀主要是利用磁感應(yīng)原理或者電渦流測(cè)量原理等來測(cè)量導(dǎo)磁材料上的非磁性涂層厚度。
涂層測(cè)厚儀主要有以下種類:1）磁性測(cè)厚法。所謂磁性測(cè)厚法是適用于測(cè)量導(dǎo)磁材料上的非磁性涂層的厚度，其針對(duì)的導(dǎo)磁材料有鋼、鐵、銀、鎳等金屬材料；
2）渦流測(cè)厚法。它是利用測(cè)頭線圈上產(chǎn)生的電磁場(chǎng)在靠近導(dǎo)體的過程中形成渦流 ，而形成的渦流大小會(huì)直接以反射阻抗作用體現(xiàn)出來 ， 最終反映出導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電涂層厚度的大小。該方法相比于磁性測(cè)厚法的精度要略低，適用于測(cè)量非導(dǎo)電涂層的厚度；
3）超聲波測(cè)厚法。因?yàn)槠湓靸r(jià)高昂，并且測(cè)量精度并不高，所以超聲波測(cè)厚方法目前在國(guó)內(nèi)還沒有被有效應(yīng)用，在國(guó)外也只有個(gè)別企業(yè)在利用超聲波進(jìn)行測(cè)厚 ， 主要是因?yàn)檫@種測(cè)量方式可以測(cè)量磁性測(cè)量和渦流測(cè)量所無(wú)法測(cè)量的多層涂層的厚度；
4）電解測(cè)厚法。這種方法需要破壞涂層進(jìn)行電解測(cè)量，測(cè)量工序復(fù)雜，并且測(cè)量精度不高，因此應(yīng)用并不廣泛；
5）放射測(cè)厚法。這種測(cè)量?jī)x器價(jià)格非常昂貴，只有在一些特殊場(chǎng)合才會(huì)用到。
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